点击图片查看大图| 是否提供加工定制： | 否 | 类型： | 镀层测厚仪 |
| 品牌： | 明远仪器 | 型号： | CMI900 |
| 测量范围： | 152.4 x 177.8（mm） | 显示方式： | 高分辨彩色CCD |
| 电源电压： | 50W(4-50kV，0-1.0mA)（V） | 外形尺寸： | 610mm x 610mm（mm） |
CMI900电镀层测厚仪产品用途:
CMI900电镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度 ( 如铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等 ) 及非磁性金属基体 ( 如铜、锌、锡等 ) 上非导电覆盖层的厚度 ( 如 : 珐琅、橡胶、油漆、塑料等 ) 。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
CMI900电镀层测厚仪特点： 1、精度高、稳定性好 2、强大的数据统计、处理功能 3、测量范围宽 4、NIST认证的标准片 5、全球服务及支持.其它规格产品：CMI900镀金测厚仪，CMI900镀镍测厚仪。
CMI900电镀层测厚仪技术规格：
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室结构 开槽式样品室
最大样品台尺寸 610mm x 610mm
XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选
Z轴程控移动高度 43.18mm
XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台
分析软件包：SmartLink FP软件包
测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析
采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测，如Au karat评价
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
调整和校正 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
测量自动化 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
样品台程控 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览(图表显示)
统计计算 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表、直方图
数据库存储功能
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器
操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
产品关键词：金镍测厚仪、镀锡测厚仪、锡铅测厚仪、镀铜测厚仪、镀镍测厚仪
CMI900电镀层测厚仪产品用途:
CMI900电镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度 ( 如铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等 ) 及非磁性金属基体 ( 如铜、锌、锡等 ) 上非导电覆盖层的厚度 ( 如 : 珐琅、橡胶、油漆、塑料等 ) 。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
CMI900电镀层测厚仪特点： 1、精度高、稳定性好 2、强大的数据统计、处理功能 3、测量范围宽 4、NIST认证的标准片 5、全球服务及支持.其它规格产品：CMI900镀金测厚仪，CMI900镀镍测厚仪。
CMI900电镀层测厚仪技术规格：
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室结构 开槽式样品室
最大样品台尺寸 610mm x 610mm
XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选
Z轴程控移动高度 43.18mm
XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台
分析软件包：SmartLink FP软件包
测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析
采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测，如Au karat评价
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
调整和校正 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
测量自动化 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
样品台程控 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览(图表显示)
统计计算 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表、直方图
数据库存储功能
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器
操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
产品关键词：金镍测厚仪、镀锡测厚仪、锡铅测厚仪、镀铜测厚仪、镀镍测厚仪
