点击图片查看大图| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：牛津仪器Oxford |
| 型号：CMI900 | 测量范围：0.025--600μm（mm） | 电源电压：220（V） |
| 外形尺寸：730*350*400（mm）（mm） |
无损【镀层测厚仪】CMI900 介绍
【镀层测厚仪】CMI900：是X射线荧光(XRF)镀层膜厚仪，无损测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，快速简洁只需要10秒即可得出测量结果，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。应用行业不一样，有着多种称谓：金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线【镀层测厚仪】、X-Ray【镀层测厚仪】、台式【镀层测厚仪】……
【镀层测厚仪】CMI900应用行业：
PCB、FPC、LED支架和封装、连接器、端子、电子元件、五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。
【镀层测厚仪】CMI900工作原理：
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
【镀层测厚仪】CMI900的工作特点：
- 测量时间约10秒，快速无损得出测量结果，进行非破坏的能量色散X射线荧光（EDXRF）分析；
- 测量元素为钛Ti22---铀U92间各元素，范围宽广；
- 同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；
- 测量精度高，结果精确到微英寸；
- 测量结果报告可直接打印或输出到PDF文档；
- 测量结果报告中可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表；可使用系统预置的报告模板和客户自定义的报告模板；
- 高级别的安全系统：样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等；
- 贵金属检测，如Au karat评价；
- 材料和合金元素分析；
- 材料鉴别和分类检测；
- 元素光谱定性分析
- 提供NIST认证的标准片。
【镀层测厚仪】测厚范围：取决于具体的应用。
【镀层测厚仪】测量精度：
厚度范围 | 误差范围 | ||
第一层（最上层） | 第二层 | 第三层 | |
小于20µin (0.5µm) | +1µin or更好 | +2µin or更好 | +3µin or更好 |
大于20µin (0.5µm) | +5% or更好 | +10% or更好 | +15% or更好 |
【镀层测厚仪】技术参数
项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射线激发系统 |
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准直器系统 |
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测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品台 |
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制 最大样品高度33mm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制 最大样品高度160mm 样品仓有4个位置卡槽，每个卡槽垂直间距25.4mm，样品台支架可放置在不同位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量 自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台满足高度＞160mm的样品测量，仓内设置多个位置卡槽，每个卡槽垂直间距25.4mm Z轴自动控制，移动行程：43mm XY轴自动控制，样品台移动行程：152×178mm 最大样品高度33mm 样品台尺寸（宽×深）：600×560mm 可提供对样品的自动和编程控制，多点测量 鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
镭射聚焦 |
镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到最佳测试距离 单击鼠标，Z轴自动扫描 Z轴自动聚焦到焦距12.7mm，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上） 避免了人为操作误差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品观察系统 | 高分辨率彩色CCD观察系统，标准光学放大倍数为30倍 50倍和100倍观察系统任选 200%、300%和400%数字放大 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
结果输出 | 测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件，为质量管理保留宝贵的原始资料 测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板（系统预置模板、含用户信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
计算机系统配置 | IBM计算机 佳能彩色喷墨打印机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析应用软件 | 操作系统：Windows XP中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系统安全性 | Z轴保护传感器 安全防射线光闸 样品室门开闭传感器 多用户密码保护，只向日常操作员设定有限的授权，操作界面简单，功能受限 主管人员可进行系统维护 系统自动生成操作员的使用记录 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量位置预览功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光对焦和自动对焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据分组、X-bar/R图表、直方图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据库存储功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
售后服务：仪器享有自购买之日计起为期12月的保固期，享有全球服务和技术支持！
