点击图片查看大图| 加工定制: | 否 |
| 品牌: | 杰特仪器 |
| 型号: | XR-806 |
| 测量范围: | XR-806 |
| 测量对象: | XR-806 |
| 测量精度: | XR-806 |
| 尺寸: | XR-806 |
| 重量: | XR-806 |
| 适用范围: | XR-806 |
一、产品简介
XR-806 X射线荧光能谱仪是集成了当今世界X射线荧光能谱分析领域领先的技术和公司科技人员深厚的理论基础、丰富的实践经验，为应对欧盟 RoHS指令量身定做的一款快速分析仪器，经过实践中的不断完善，性能完全可以满足电子行业检测限用物质的要求。整机结构合理、紧凑，每个部件都经过精心的选择和设计，经久耐用，性能可靠，是电子行业成功应对欧盟RoHS指令和《中国电子信息产品污染物管理办法》的首选利器。
技术规格
2 检测塑胶类样品和轻质金属材料中的Pb、Cd、Hg、总Br和总Cr检出限可以达到5ppm。
2 检测Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊锡中的Pb、Cr等成份检出限可以达到100ppm, Cd的检出限可以达到20ppm。
仪器配置
2 仪器核心部件采用美国Amptek公司生产的X-123系统，集成了Si-PIN高分辨率半导体X射线探测器、高性能放大和整形电路、数字脉冲处理器以及脉冲高度分析器即MCA，最大限度地发挥探测器的性能。
2 X射线管高压发生器采用美国Spellman公司生产的50W高压电源，性能指标优越，为仪器的长期可靠运行提供了保障。
2 采用专业厂家生产的薄铍窗X射线管，最高功率达50W，专业化封装，辐射安全和各项性能指标完全满足应用要求。
2 配置多种经过精心设计的滤光片，使得XR-306型X射线荧光能谱仪不仅分析塑胶材料中的有害物质时可以达到非常高的精度，同时，分析金属材料中的Pb和Cd等有害物质也完全可以达到很好的精度。
2 滤光片自动转换让操作人员无需掌握深入的理论即可进行准确可靠的测量。
2 推拉式开盖方式结合开放式样品腔设计完美地解决了超大样品的检测问题，做到小样品测试安全方便，大样品测试只要按系统提示操作同样能保证操作人员安全。
2 精心设计的应用程序不仅可以使用户方便准确的检测，还提供非常漂亮的检测报告，对用户开放报告格式定 制功能，无论何种格式的报告都可以准确定制。此外还提供了数据输出到Excel表格的功能，方便用户进行 统计分析。
2 高清晰度摄像头的设置不仅使检测报告图文并茂，结合所配备的多孔经准直器还可以对不均匀样品进行定点检测。
? 开放式的软件设计，出厂前已配置了常用材料的分析方法，用户经过培训以后也可以建立自己的分析方法，拓展仪器的使用范围，如其他微量元素的分析和镀层测厚。
XR-806产品参数
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仪器型号
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XR-806
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分析原理
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能量色散X射线荧光分析法
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分析元素范围
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Na(11)-U(92)任意元素
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检出下限
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Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
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样品形状
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任意大小，任何不规则形状
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样品类型
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塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等
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X射线管
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靶材
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钼（Mo）靶
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管电压
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5─50KV
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管电流
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1─1000ｕA
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样品照射直径
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2、5、8mm
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探测器
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美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统
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高压发生器
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美国SPELLMAN高压发生器
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前置放大器
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美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好
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主放大器
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美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好
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AD转换模块
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美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好
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ADC
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2048道
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滤光片
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6种滤光片自动选择并自动转换
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样品定位
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微动载物平台（选配件）
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样品观察
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130倍彩色CCD摄像机
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微区分析
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X光聚焦微区分析系统（选配件）
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分析软件
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专利软件产品 BX-V1.5版本，终身免费升级
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分析方法
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理论α系数法、基本参数法、经验系数法
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操作系统软件
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WINDOWS XP（正版）
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数据处理系统
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主机
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PC商务机型
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CPU
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≥2.8G
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内存
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≥512MB
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光驱
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8xDVD
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硬盘
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≥80G
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显示器
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17寸液晶显示器
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工作环境
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温度10－35С，湿度30－70％RH
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重量
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60Kg（主机部分）
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外形尺寸
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550（W）×450(D)×450(H)mm
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外部供电电源要求
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AC220±10%、50/60Hz
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测定条件
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大气环境
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测试样品时间
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100－300秒可调
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三、XR-806系列特点
? 国家“七.五”与“九.五”荧光分析仪科技攻关的成果；
? 无与伦比的理论α系数法分析方法，国内首创；
? 直接生成人性化分析报告，也可在分析软件中定制各种风格的分析报告；
? 全封闭铅板双迷宫防辐射措施，符合国家标准；
? 可以分析Na-U的所有元素（需相关标准样品）；
? 无需制样，快速无损分析；
? 进口主要部件，稳定性好、分析精度高、故障率低；
? 国产侧窗型X光管，性能稳定，寿命长（5年）更换成本低；
? 全中文操作分析软件，对操作人员要求不高；
? 功能强大的分析管理软件，方便查询历史数据；
? 自动转换滤光片系统，国内首创；
? 分析不同类型样品参数自动设定，无需人员操作；
? 130倍彩色CCD摄像机可随时监控样品测量位置；
? 先进的微动载物平台可以微调样品测量点（选配）；
? 先进的X光聚焦微区分析系统可以分析电子元器件微小部位（选配）；
? 美国进口电制冷探测器，无需添加液氮，操作维护简单。
? 可测量涂镀层厚度。
四、仪器核心硬件部分
4．1美国AMP-TEK Si(PIN)半导体制冷探测器
探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一
分辨率 < 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)
计数率 > 3000/S
晶体面积 > 15平方毫米
铍窗厚度 = 0.025mm
探测功率 < 1.2W
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．2、美国AMP-TEK DP40多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）
通道数 2048道
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．3、美国AMP-TEK PC4-3电源控制器
系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)
恒定制冷控制 400 VDC
4．4、低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管
经过特殊处理X光管可对2英寸的0.25mR/hr 的射线进行屏蔽, 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却， 0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。<设计使用寿命>15000小时。
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．5、美国SPELLMAN高压发生器
输 入: 85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准
电压变动率: 无负载到满负载，输出电压的0.01%
电流变动率: 0～额定电压，输出电流的0.01%
纹 波: 输出电压的0.25%峰-峰
温 度系 数: 电压或电流调定，0.01%/℃
稳 定 性: 预热半小时后，0.05%/8小时
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．6、滤光片自动转换系统
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．7安全防辐射系统
1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）
2、全封闭铅板双层迷宫防辐设计（从设计结构做起）
3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置
4、舱门意外开启X射线强制中断装置
5、延时测试与X射线警示系统
6、进口X射线剂量仪出货检测并接受国家有关部门监督
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．8、仪器外围配套设备
HP 计算机系统
CPU P4 3.0
内存 512MB
光驱 8X DVD
硬盘 80G
显示器 17寸液晶显示器
Windows XP操作系统
HP 彩色喷墨打印机
