点击图片查看大图| 加工定制： | 否 | 品牌： | polywis |
| 型号： | X-5600 | 测量范围： | 从ppm至100% |
| 测量对象： | 从铝（13）至铀（92）都可测量 | 测量精度： | 5% |
| 尺寸： | 520mm x 600mm x 270mm（mm） | 重量： | 4200（kg） |
| 适用范围： | 电子，五金，塑料，PCB板 |
产品型号：x-3000
产品详情：
X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格
1．激发源：本机采用低功率 X 射线管（W靶），最高电压可达50KV，最大电流1mA
2．高压电源：最大50W，50KV，1mA
3．探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
4．多道分析器：2048道
5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6．电源：交流220V 50Hz
7．体积：520mm x 600mm x 270mm
8．重量：约 42kg (主机)
整机技术性能
1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
2．可测量含量范围，从ppm至100%
3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟
4．多元素同时定性定量
5．蜂位漂移：八小时小于1%
进口探测器的性能指标
1．探测器类型：电制冷Si-PIN
2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）
3．硅活化区厚度：300um
4．探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev
5．探测器窗口：铍窗，25um厚
进口高压电源规格
1．电压和电流从零至满量程连续可调，最大50KV，1mA
2．电压调整率：
负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%
3．电流调整率：
负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%
4．稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%
5．温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%
X-3000型贵金属测试系统,在国内同行业的唯一性
1、 我司研发、生产的系列能量色散X荧光光谱仪享有国家级5项国家版权局“计算机软件著作权登记证书”，5项国家知识产权局“实用新型专利证书”，附10份复印件。
2、 国家首饰质量监督检验中心今年已经采购了X-3000型的升级版X-3600型测金仪系统。
3、 X-3000型测金仪系统具有银铜双峰位校准系统、三重防辐射系统、峰位自调系统，该系统正在申请之主知识产权。
4、 全部软件系统采用基本参数法，，理论Alpha系数法、经验系数法，多元回归法等具有自主知识产权独创的综合计算方法。
5、 独创的密度法测试包金系统，成为X-3000型测金仪系统的重要组成部分，属国内首创。
6、 高集成，数字化软硬件系统更加丰富了X-3000型测金仪系统的整体设计，使得系统更加稳定、可靠、精准。
7、 开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，真正实现零费用升级，便于移动测量。
8、 高分辨率进口探测器可定性、半定量测试珠宝首饰行业金依合金、铂铱合金造假问题，解决行业疑难问题。
9、 可同时兼测RoHS项目及贵金属首饰内有毒有害物质。
