点击图片查看大图| 加工定制: | 否 |
| 品牌: | 博智 |
| 型号: | X-3000 |
| 测量范围: | 金属、电子产品、建材、矿粉 |
| 测量对象: | 液体、固体、粉末 |
| 测量精度: | 0.01-99.99% |
| 尺寸: | 520*600*280 |
| 重量: | 43-45 |
| 适用范围: | 除气体以外所有物质 |
| X-5000 ROHS检测仪 |
| 产品型号：x-5000 |
| 产品详情：
X-5000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格：
激发源：本机采用低功率 X 射线管（Mo靶），最高电压可达50KV，最大电流1mA
高压电源：最大50W，50KV，1mA
探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（
55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
多道分析器：2048道
软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
电源：交流220V 50Hz
体积：520mm x 600mm x 270mm
重量：约 42kg (主机)
整机技术性能：
测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
测量含量范围，从ppm至100%
测量速度快，通常为几十秒到几分钟
多元素同时定性定量
蜂位漂移：八小时小于1%
进口探测器的性能指标：
探测器类型：电制冷Si-PIN
探测面积：2.4x2.8mm（7mm
2）
硅活化区厚度：300um
探测器分辨率：对于
55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev
探测器窗口：铍窗，25um厚
进口高压电源规格：
电压和电流从零至满量程连续可调，最大50KV，1mA
电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%
电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%
稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%
温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%
详细参数：
定量测量范围：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
测量精度：低于100ppm时精确度15ppm，大于100ppm时，精确度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
检出限： Pb：3.2 mg/kg (ppm)
Hg：3.2 mg/kg (ppm)
Cr：4.1 mg/kg (ppm)
Cd：5.8 mg/kg (ppm)
Br：3.1 mg/kg (ppm)
测量时间：30秒——120秒可选
X射线源：X光管
工作环境温度：10℃——45℃
工作环境湿度：20%——80%
高压器：50Kv
操作系统：windows XP
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由国家首饰标准化技术委员会申报，国家标准化管理委员会2008年12月31日批准的GB/T 18043-2008、GB 11887-2008、GB/T 17832-2008扫描电子版邮件。该2个推荐性执行标准将于2009年7月1日在全国执行；1个强制性执行标准将于2009年11月1日在全国执行。
本公司研发生产的上述能量色散荧光光谱仪完全能满足上述3个标准要求，精确测试各种贵金属内所有杂质元素。
