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提示信息| 重量： | 42（kg） | 型号： | x-3000 |
| 测量精度： | 1ppm至100% | 尺寸： | 520mm x 600mm x 270mm（mm） |
| 品牌： | polywis | 加工定制： | 否 |
| 测量范围： | 13号元素Al到92号元素U |
X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格
1．激发源：本机采用低功率X射线管（W靶），最高电压可达50KV，最大电流1mA
2．高压电源：最大50W，50KV，1mA
3．探测器：电制冷Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
4．多道分析器：2048道
5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6．电源：交流220V 50Hz
7．体积：520mm x 600mm x 270mm
8．重量：约42kg (主机)
整机技术性能
1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
2．可测量含量范围，从1ppm至100%
3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟
4．多元素同时定性定量
5．蜂位漂移：八小时小于1%
进口探测器的性能指标
1．探测器类型：电制冷Si-PIN
2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）
3．硅活化区厚度：300um
4．探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev
5．探测器窗口：铍窗，25um厚
