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提示信息| 加工定制： | 是 | 品牌： | Polywis |
| 型号： | X-3000 | 测量范围： | 从Al（13号元素）到U（92号元素） |
| 测量对象： | 金属 | 测量精度： | 1ppm到99.99% |
| 尺寸： | 520 x600 x270（mm） | 重量： | 42（kg） |
| 适用范围： | 贵金属 |
X-3000型贵金属检测仪是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
#固体、粉末、液体及薄膜等多种样品皆可测试，且样品不破坏
#自动谱线识别，让您方便地了解样品的组成
#丰富的定量分析软件
#测量范围宽，从铝（13）至铀（92）都可测量
#测量速度快，通常为几十秒到几分钟
#多元素同时定性定量
#基于WINDOWS NT/2000/XP的工作软件，使您能简单、方便地完成各项复杂的分析任务
#高分辨率
#使用方便、安全
