尺寸:48x20X150(mm) |
加工定制:否 |
测量范围:0-50mm |
测定对象:金属上的涂镀覆盖层 |
重量:0.3(kg) |
型号:MiniTest1100/2100/3100/4100 |
测量精度:1-3% |
分辨率:0.1 |
品牌:德国EPK |
电源:3v |
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MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能.
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪
的详细介绍 MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀覆层测厚仪 MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,所有型号均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。 F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能 所有探头都可配合任一主机使用 在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素 MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪数据处理功能; 所有型号均可配所有探头; 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机; 可使用一片或二片标准箔校准 |
型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | MINITEST存储的数据量 | 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1 | 1 | 10 | 99 | 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) | | 1 | 10 | 99 | 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | | 1 | 500 | 500 | 数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | MINITEST统计计算功能 | 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ | 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ | 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | | | | √ | 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | | | √ | √ | 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | | √ | √ | √ | 其他功能 | 设置极限值 | | | √ | √ | 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值 | | | √ | √ | 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | | | √ | √ | 连续测量模式中显示最小值 | | | √ | √ |
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探头 | 量程 | 低端 分辨率 | 误差 | 最小曲率半径 (凸/凹) | 最小测量 区域直径 | 最小基 体厚度 | 探头尺寸 | 磁 感 应 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | 两 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | 电 涡 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 无限制 | φ17x80mm | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
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测头F05 | (铁基体涂镀层最小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um) |
测头F3 | (铁基体涂镀层 0-3000um,低端分辨率0.2um) |
测头F1.6 | (铁基体涂镀层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头F1.6P | (铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头F1.6/90 | (铁基体涂镀层测管内壁 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头F10/2,F20 | (铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um) |
测头F50 | (铁基体涂镀层 0-50mm,分辨率,10um) |
测头FN1.6 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头FN1.6P | (铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头N02 | (铜铝基体涂层 0-200um,分辨率,0.1um) |
测头N08 Cr | (铜基体上镀铬层 0-800um,分辨率0.1um) |
测头N02 Tu | (铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um) |
用于测头N02 Tu的专用支架 | |
测头N1.6 | (铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头N1.6/90 | (铜铝基体涂层测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头N10/2,N20 | (铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um) |
测头N100 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um) |
测头CN 02 | (敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um) |
RS232接口电缆for 2100/4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
MSOFT41数据分析软件for 4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |