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MiniTest1100/2100/3100/4100 德国EPK 涂层测厚仪
MiniTest1100/2100/3100/4100 德国EPK 涂层测厚仪
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产 品: MiniTest1100/2100/3100/4100 德国EPK 涂层测厚仪 
单 价: 11000.00元/ 
最小起订量:  
供货总量: 1100
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
更新日期: 2013-05-27  有效期至:长期有效
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详细信息
尺寸:48x20X150(mm) 加工定制:否 测量范围:0-50mm
测定对象:金属上的涂镀覆盖层 重量:0.3(kg) 型号:MiniTest1100/2100/3100/4100
测量精度:1-3% 分辨率:0.1 品牌:德国EPK
电源:3v
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能.

MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪

的详细介绍

 MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀覆层测厚仪
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,所有型号均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能
所有探头都可配合任一主机使用
在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素
 MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准

技术指标
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)
 
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
 
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
 
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
 
 
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
 
 
 
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
 
 
显示并打印测量值、打印的日期和时间
 
其他功能
设置极限值
 
 
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值
 
 
连续测量模式中测量稳定后显示读数
 
 
连续测量模式中显示最小值
 
 
探头
量程
低端
分辨率
误差
最小曲率半径
(凸/凹)
最小测量
区域直径
最小基
体厚度
探头尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

 

MiniTest1100-4100-d

测头F05(铁基体涂镀层最小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um)
测头F3(铁基体涂镀层             0-3000um,低端分辨率0.2um)
测头F1.6(铁基体涂镀层             0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头F1.6P(铁基体上未固化粉末涂层   0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头F1.6/90(铁基体涂镀层测管内壁   0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头F10/2,F20(铁基体涂镀层             0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
测头F50(铁基体涂镀层                       0-50mm,分辨率,10um)
测头FN1.6(铁及铜铝基体涂镀层                 0-1600um,分辨率0.1um)
测头FN1.6P(铁及铜铝基体上未固化粉末涂层       0-1600um,分辨率0.1um)
测头N02(铜铝基体涂层                       0-200um,分辨率,0.1um)
测头N08 Cr(铜基体上镀铬层                     0-800um,分辨率0.1um)
测头N02 Tu(铝箔或铝薄壁管上薄涂层             0-200um,分辨率0.1um)
用于测头N02 Tu的专用支架
测头N1.6(铜铝基体涂层                       0-1600um,分辨率0.1um)
测头N1.6/90(铜铝基体涂层测管内壁             0-1600um,分辨率0.1um)
测头N10/2,N20(铜铝基体涂镀层         0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
测头N100(铁及铜铝基体涂镀层                 0-100mm,分辨率100um)
测头CN 02(敷铜板等                           10-200um,分辨率0.2um)
RS232接口电缆for 2100/4100MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)
MSOFT41数据分析软件for 4100MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)


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