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提示信息美国泰克P6248 差分探头
差分探头使用户在磁盘驱动器测试、数字电路设计（RAMBUS）和通讯应用方面（如：千兆比以太网，IEEE 1394和Fibre Channel）遇到的宽频带信号，能够进行时域和频域的测量。含有用于RAMBUS测试和IEEE 1394的内部接入附件，小尺寸探头以及相配的探头附件，很适宜探测表面封装器件，同时保持高的共模抑制比。
适于磁盘驱动器读出磁道特性验证以及与高速逻辑相关的地电平跳动故障的时域分析。它也适用于脉冲波形以及高速通讯信号的串扰测试。
技术指标
带宽（可保证的）：DC至1.0GHz
上升时间（典型值）:<350ps
直流衰减误差：±2%
共模输入电压范围：±7.0V,1X;±7.0V,10X
差模输入电压范围：±850mV,1X;±8.5V,10X
最大输入电压：±25V(DC+PEAK AC)
抗静电干扰：>15kV
TEKPROBE接口：TDS系列示波器提供电源、自动标定刻度、自动转载
带宽限制：可选择200MHz
直流抑制：0.4Hz,1X;4.0Hz,10X
特点和优点
10X模式>1.0GHz带宽（可保证的）
—低输入电容<1pF（差分）
—探头输入连接件；两个标准的.025英寸方形座（阴）
—抗静电范围（IEC801-2）
—能连接到TDS系列示波器TEKPROBE接口或其它使用1103TEKPROBE电源的仪器
—适用于示波器、频谱分析仪、网络分析仪
—共模抑制比>60dB(1000:1)
—探头小易探测SMD
应用
通讯(千兆比以太网，IEEE 1394，光纤通道)
半导体特性（RAMBUS）
磁盘驱动器读出磁道设计
通讯脉冲波测试
抖动、串扰、BERT测试
地电平抖动测试
适于磁盘驱动器读出磁道特性验证以及与高速逻辑相关的地电平跳动故障的时域分析。它也适用于脉冲波形以及高速通讯信号的串扰测试。
技术指标
带宽（可保证的）：DC至1.0GHz
上升时间（典型值）:<350ps
直流衰减误差：±2%
共模输入电压范围：±7.0V,1X;±7.0V,10X
差模输入电压范围：±850mV,1X;±8.5V,10X
最大输入电压：±25V(DC+PEAK AC)
抗静电干扰：>15kV
TEKPROBE接口：TDS系列示波器提供电源、自动标定刻度、自动转载
带宽限制：可选择200MHz
直流抑制：0.4Hz,1X;4.0Hz,10X
特点和优点
10X模式>1.0GHz带宽（可保证的）
—低输入电容<1pF（差分）
—探头输入连接件；两个标准的.025英寸方形座（阴）
—抗静电范围（IEC801-2）
—能连接到TDS系列示波器TEKPROBE接口或其它使用1103TEKPROBE电源的仪器
—适用于示波器、频谱分析仪、网络分析仪
—共模抑制比>60dB(1000:1)
—探头小易探测SMD
应用
通讯(千兆比以太网，IEEE 1394，光纤通道)
半导体特性（RAMBUS）
磁盘驱动器读出磁道设计
通讯脉冲波测试
抖动、串扰、BERT测试
地电平抖动测试
