重量:80(kg) | 型号:XEPOS | 测量精度:>160eV |
尺寸:400x650x750(mm) | 适用范围:矿物分析、炉渣分析、陶瓷分析、粉煤灰分析、水泥分析 | 品牌:SPECTRO/斯派克 |
加工定制:否 | 属性:属性值 | 测量范围:元素周期表中Na – U的所有元素 |
测量对象:土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测 |
德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术,把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样,这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术,并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。
SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件,可获得极佳的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保最佳激发,12位样品自动交换器,预先安装好的应用软件包和智能软件模块,使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。
SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包,包括:在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析:土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。
XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令。
技术原理
由X射线管产生的X射线,通过偏振靶产生一束偏振单色聚焦的射线。该射线全部可到达样品,使样品中的各种元素产生特定的二次X光,称为X射线荧光,由SDD计数器将其全部记录下来,特定的能量即代表此元素在样品中存在与否,其强度即代表含量的高低。通过此方式该仪器可对Na-U间的元素进行分析测试。
仪器特点
1.采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术,区别于其他X射线荧光仪,仪器的背景最低,信噪比最佳,检出限最低. X光管功率达50W,最大电压50KV,最大电流2mA。
2采用偏振靶转换技术,形成一束单色偏振的X光,保证对元素周期表中Na
– U的所有元素均有最佳的激发效果。其中仪器所采用的晶体靶,由于X射线衍射的原因,其激发强度不仅不会下降,反而会产生单色平行X光束,大大提高激发元素的效率。
3由于偏振X射线本身所具有的偏振性及单色性,因此仪器无需选择滤光片。避免了烦杂的滤光片的选择,简化分析操作,减少了X光的损失,节约了分析时间。可实现真正意义上的Na-U的全分析。
4 Spectro Xepos型仪器配有无需液态氮冷却的Si计数器,计数率高达100,000pcs,可有效防止计数溢出。分辨率好于160eV,峰背比5000:1,有效面积7平方毫米。
5仪器采用的方式于世界上最强的X射线发生源-同步加速器所采用的光源机制相似,X光极为纯净,减少了杂散光对分析结果的影响。
6仪器可选择配置FP快速定性,半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行分析。与其他X荧光仪器相比,FP更为接近(符合)实际,在此程序中采用了数十种国际标准样品,实测结果并予以固化。
7仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件,操作极为方便。采用人机功效学原理,谱图汇编,自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。
8仪器具有多种校正模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括:基本参数法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。
外观与外设
高度: 400 mm
宽度: 650 mm
长度: 750 mm
重量: 80 kg
操作手册
技术手册
外设的技术资料
输入电压: 120/230 V AC, 50/60 Hz
不间断电源
4.3.2环境要求
20-25°C室温要求
<80%相对湿度
无有害性气体及灰尘
4.3.3电源要求
AC 220 V
±10%
4.3.4地线要求
小于4欧姆
4.3.5标样要求
可帮助用户建立标准曲线,用户提供3-5个样品
适用范围和典型用户
矿物分析,典型用户:中国地质科学研究院
炉渣分析,典型用户:首都钢铁公司、济南钢铁公司
陶瓷分析,典型用户:法国圣戈班陶瓷(广汉)公司、澳华瓷业公司
粉煤灰分析,典型用户:华北电力研究院,浙江电力研究所
水泥分析,典型用户:深圳大学
卡斯普(北京)科技有限公司
地址:北京市朝阳区东直门外万红西街2号A座5019室
邮 编:100015 网址www.cuspbj.com
电 话:010-84505859 传真:010-84505680
免责声明:本文所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题,请第一时间告知,我们将根据您提供的证明材料确认版权并立即删除内容。