ZLK.RTS-2/ZLK.RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国
A.S.T.M
标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
    仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
    本仪器广泛应用于太阳能单晶（多晶）生产厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

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