发布需求
北京| 加工定制：是 | 测量范围：0.01-10000（um） | 类型：纳米粒度仪 |
| 型号：高精密颗粒检测仪 | 测量时间：1（s） | 品牌：Topcon、Rion |
| Rion测量种类：特殊气体、液体颗粒检测 | Topcon测量种类：晶片/芯片 外观、表面(缺陷)检查装置 | 测量重复性：99.99999999（%） |
| Topcon测量方式：走查显微镜 | 测量准确度：99.99999999（%） |
1.Topcon 半导体前工程、后工程，外观、表面(缺陷)检查装置。走查显微镜。
Vi-4303/4203FX High Speed Full Auto Wafer Inspection.
* Various wafer handling
a.Up to 5mm thickness wafer
b.Down to 80um thickness wafer
c.LED chips for Front & Back end process
* Effective Option
2.Rion 特殊气体、液体颗粒检测仪。
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