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CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪
销售热线:15295056568

CH-1-ST台式千分测厚仪 0.001mm塑料薄膜纸张测厚仪 台式测厚仪

address  江苏
品 牌: 六菱 
型 号: CH-1-ST 
单 价: 700.00元/台 
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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-06-19
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产品详细说明 收藏此产品
类型: 手提式测厚仪 型号: CH-1-ST
品牌: 六菱 加工定制:
测量范围: 千分塑料簿膜薄片台式测厚仪(mm)

 

 

 

 

CH-1-ST台式千分测厚仪

    称:

千分塑料簿膜薄片台式测厚仪

值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm1mm0.005mm

主要用途:

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(最大测量深度为80mm

执行标准:

GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

CH-1-ST台式千分测厚仪

 

 

 

CH-1-BT台式千分测厚仪

名 称:

千分台式乳胶测厚仪

分 度 值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm~1mm0.007mm

主要用途:

适用于实验室对乳胶、橡胶、纸张等试样厚度的测定(最大测量深度为80mm)

执行标准:

HG2041-1991

 

 

CH-1-BT台式千分测厚仪

 

 

 

CH-10-A(大)

手式大跨度测厚仪

称:

百分手式大跨度橡胶测厚仪

分 度 值:

0.01mm

测量范围与准确度:

0mm10mm0.02mm

主要用途:

方便于生产现场测量进深度较深橡胶和塑料制品等厚度(最大测量深度125mm

执行标准:

HG2041-1991

 

 

   

    CH-10-A(大)手式大跨度测厚仪

 

 

 

 

CH-10-AT台式百分测厚仪

称:

百分台式橡胶测厚仪

分 度 值:

0.01mm

测量范围与准确度:

0mm10mm0.02mm

主要用途:

适用于在实验室对橡胶和塑料制品试样厚度的测定(最大测量深度为80mm

执行标准:

HG2041-1991

 

 

 

   

        CH-10-AT台式百分测厚仪

 

 

 

 

 

 

 

 

CH-1-S手式千分测厚仪

称:

千分塑料簿膜薄片手式测厚仪

值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm1mm0.005mm

主要用途:

方便携带至生产现场测量塑料薄膜和薄片的厚度(最大测量深度为45mm

执行标准:

GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

 

CH-1-S手式千分测厚仪

 

 

 

CH-1-B手式千分测厚仪

名 称:

千分手式乳胶测厚仪

分 度 值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm~1mm0.007mm

主要用途:

方便携带至生产现场测量乳胶、橡胶、纸张等厚度(最大测量深度为45mm)

执行标准:

HG2041-1991

 

 

       CH-1-B手式千分测厚仪

 

 

CH-10-A手式百分测厚仪

称:

百分手式橡胶测厚仪

分 度 值:

0.01mm

测量范围与准确度:

0mm10mm0.02mm

主要用途:

方便携带至生产现场测量橡胶和塑料制品等厚度(最大测量深度为45mm

执行标准:

HG2041-1991

 

CH-10-A手式百分测厚仪

 

 

 

CH-12.7-ATSX

数显百分橡胶塑料测厚仪

称:

百分台式数显橡胶测厚仪

分 度 值:

0.01mm

测量范围与准确度:

0mm12.7mm0.02mm

主要用途:

适用于在实验室对橡胶和塑料制品试样厚度的测定(最大测量深度为80mm

执行标准:

HG2041-1991

 

CH-12.7-ATSX数显百分橡胶塑料测厚仪

 

 

CH-12.7-STSX

数显薄膜薄片测厚仪

称:

千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪

值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm12.7mm0.005mm

主要用途:

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(最大测量深度为80mm

执行标准:

GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

 

 

   CH-12.7-STSX数显薄膜薄片测厚仪

 

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