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光谱仪、光度计-供应X荧光光谱仪Thick800A-光谱镀膜测厚仪
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光谱仪、光度计-供应X荧光光谱仪Thick800A-光谱镀膜测厚仪
销售热线:18820973657

光谱仪、光度计-供应X荧光光谱仪Thick800A-光谱镀膜测厚仪

address  广东
品 牌: 天瑞 
型 号: thick800a 
单 价: 面议 
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供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-06-24
 
 
产品详细说明 收藏此产品
加工定制: 品牌: 天瑞
型号: thick800a 光源: X荧光
波长范围: 分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm(nm)(nm) 外形尺寸: 576(W) x 495 (D) x 545(H) mm(mm)(mm)
重量: 90(g) 适用范围: 主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业

仪器介绍

       Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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