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上光 15JA  测量显微镜 尺寸测量仪
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上光 15JA  测量显微镜 尺寸测量仪
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上光 15JA 测量显微镜 尺寸测量仪

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单 价: 面议 
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供货总量: 50 台
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2025-01-29
 
 
产品详细说明 收藏此产品
仪器放大倍数: 100X 加工定制:
类型: 光学显微镜 重量: 10600(g)
型号: 15JA 目镜放大倍数: 10X
适用范围: 尺寸测量 品牌: 上光
装箱数: 1 物镜放大倍数: 2.5X 10X

一、用途:
    15J型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
   1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。
   2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
   3.用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等.
二、技术规格:
物 镜
目 镜
显微镜
放大倍数
工作距离
(毫米)
视场直径
(毫米)
放大倍数
焦距(毫米)
放大倍数
焦距(毫米)
2.5X
43.40
10X
25.00
25X
58.84
5.6
10X
17.13
100X
7.81
1.4
三、测量工作台读数装置主要规格:
    x轴移动测量范围: 50毫米
    y轴移动测量范围: 13毫米
    测微器分度值: 0.01毫米
    测量台转动范围: 不限
    测量台刻度盘分度范围: 0° - 360°
    测量台刻度盘之分度值: 1°
    测量台刻度盘游标读数示值: 6
    照明方式:反射光(自然光)
    测量精度:仪器值误差(5+L/15)微米
    仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。
    注:测量地点温度变化(20 ± 3)C;L—被测件长度(毫米)
    仪器之主要尺寸: 测量台与物镜间之最大距离:80毫米
    测量工作台直径: 120毫米
    仪器外形尺寸:  高325*长262*宽220毫米
    仪器重量级: 约10.6公斤
    显微镜的目镜管同棱镜成为一体绕垂轴旋转,显微镜可由调焦手轮进行上下调焦
四、选购件:1.目镜:20X
             2.物镜:4X,5X,20X,40X

具体区别:

15J测量显微镜为普通测量显微镜

15JA测量显微镜在15J的基础上加电光源

15JE测量显微镜在15JA的基础上加数显装置

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