应用于 CdS, ZnO, Cu(InGa)Se, Mo, CdTe 的涂层厚度测量及 CIGS 成分分析

X-Strata980 特点:
• 简单而精确的分析
• 快速的多层厚度测量和成分分析，几秒内得出结果
• 无需样品制备：只需将样品放入X-Strata980样品舱，关上舱门，按一下“启动”，即开始分析
• XY程控台进行多层分析，无需人员看管

更多优势：
• 改善质量控制以确保产品符合规格
• 使成本最小化，产量最大化
• 操作便捷， 只需简单培训
• 可靠精确的检测结果
• 坚固耐用的分析仪器牛津仪器(Oxford Instruments)于 1959 年创建于英国牛津，现已成为世界领先的科学仪器跨国集团公司，拥有分布于英国、美国、芬兰、丹麦和中国的十几个工厂以及遍及全球的分公司或办事处，其产品和服务已经延伸到了一百多个国家和地区。

   在四十多年的高速发展过程中，牛津仪器公司凭借自身的科研优势，以超前的技术、出色的管理和独树一帜的产品对推动全球的科学发展作出了巨大的贡献。

   牛津仪器工业分析部(Oxford Instruments Industrial Analysis)提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的快速、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。

   X-MET手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪OES是对现场合金分类及PMI测试、ROHS指定中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。我们的OES设备包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、 FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TEST MASTER。

   Lab-X、Twin-X、ED2000 及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析，如石油产品的硫含量的分析、水泥中钙含量的分析。我们能提供多款性能卓越可靠的光谱仪供您选择以满足您的分析需求。

   对于各种不同薄膜的厚度测量要求，牛津仪器不但向您提供各类高性能的XRF测厚仪（X-Strata960/980），同时还有不同型号的便携式磁感/涡流测厚仪（CMI100/200/500/700）供您选择。