型号: | X-3600 | 测量精度: | ±0.1% |
分辨率: | 139eV | 用途: | 检测贵金属含量 |
品牌: | 博智伟业 | 电源电压: | 50W,50kV,1mA |
加工定制: | 否 | 测量范围: | 贵金属 |
1产品名称及机型指标介绍:
1.1.产品名称及型号:贵金属检测仪X-3600型
1.2.制造商:天津市博智伟业科技有限公司
1.3.X-3600贵金属检测系统包括:X-3600贵金属检测仪一台,贵金属分析软件一套,密度分析软件一套。
1.4.仪器简介:X-3600型贵金属检测仪是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
1.5.产品图片
X-3600型
1.6.工作条件
●工作温度:15-30℃
●相对湿度:≤70%
●电 源:AC: 220±5V
1.7.技术性能及指标:
1.7.1.分析元素范围:从铝(13号元素)到铀(92号元素)
1.7.2.元素分析含量范围:1ppm到99.99%
1.7.3.测量时间:30秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果
1.7.4.元素同时分析能力:26种元素
1.7.5.测量样品型态:固体,粉末,液体
1.7.6.测量精度:以黄金样品为例,高含量样品(含量在75%以上)误差
±0.1%,低含量样品(含量在75%以下)误差±0.3%
1.7.7.多次测量重复性:可达0.1%
1.7.8.测量次数:任意可调,且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
1.7.9.探测器:美国AMPTEK原装进口Si-Pin探测器,探测面积6mm2分辨率149eV
1.7.10.X光管:W靶X光管,对金银铂钯等贵金属激发效率更高
1.7.11.高压电源:美国Spellman原装进口高压电源,最大功率50W,50kV,1mA
1.7.12.密度检测系统:密度检测仪及检测软件一套,可以对样品的密度进行准确分析鉴定,从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析(本系统具有唯一专利性)
1.7.13.镀层检测:仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测,并得出准确结果(使用者可以根据需求进行二次开发)
1.7.14.样品成像定位系统:内置自感光500万像素摄像头及先进的定位软件,方便样品的局部定位测量
1.7.15.定量分析方法:基本参数法,理论Alpha系数法,经验系数法,多元回归法等(国内同行业唯一采取此类综合计算方法)
1.7.16.定性分析方法:元素自动寻峰,Kl谱线标记法,峰谱比对法等
1.7.17.操作软件:开放的可供客户自行开发和升级的工作软件,真正实现零费用升级,使一机多能。
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